閥門汽蝕
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本文比較分析了三種控制閥汽蝕損害的診斷方法,建議在閥門選型時,充分利用法則,控制出口流速,避免或降低閥門的損壞程度。
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閥門汽蝕
本文比較分析了三種控制閥汽蝕損害的診斷方法,建議在閥門選型時,充分利用法則,控制出口流速,
避免或降低閥門的損壞程度。
控制閥在流體工業(yè)中發(fā)揮著重大作用。如今,隨著裝置節(jié)能減排、提高效益、連續(xù)穩(wěn)定運行、減少控
制閥備件、快速的售后服務響應等要求的逐步提高,用戶愈來愈 重視如何優(yōu)化、選擇及使用控制閥這一問
題。這是由于控制閥在裝置中扮演執(zhí)行器的角色,直接決定著裝置的運行狀態(tài)。據(jù)統(tǒng)計,因控制閥自身故障
而導致裝置停車 的比例高達 65%,控制閥選型的好壞也決定了其生產(chǎn)產(chǎn)品的質(zhì)量和產(chǎn)量。
回顧近 5 年來,控制閥技術發(fā)展迅速,一些世界領先級控制閥廠家紛紛推出了在特殊情況下應用的閥
門,例如耐高溫、高壓差、汽蝕、閃蒸、部分顆粒介質(zhì)磨蝕、 高噪音等工況;同時,智能診斷型定位器陸
續(xù)問世,通過定位器可以對閥門進行良好的實時檢測、提供維護報警信息、優(yōu)化閥門使用。毋庸置疑,上述
技術的提高, 大大保證了裝置的穩(wěn)定運行,減少了許多薄弱環(huán)節(jié)。但是我們?nèi)绾尾拍苷_計算選擇并使用
閥門呢?根據(jù)使用經(jīng)驗可知,在苛刻工況中,汽蝕經(jīng)常造成閥門內(nèi)件損壞,并伴有高噪音、內(nèi)件振動、阻塞流
等情況發(fā)生,在閥門計算選型時,如何減小、避免汽蝕的發(fā)生至 關重要。目前,閥門制造商對汽蝕的評估
方法不盡相同,本文圍繞 KE 法、δ法和 XFz 法,主要針對如何減少、避免汽蝕和閥門的正確選型應用進行
了分析。
控制閥汽蝕控制閥汽蝕現(xiàn)象是指介質(zhì)流經(jīng)閥內(nèi)腔縮流處時,流速最大,壓強能最低,如果這時的壓力低于介質(zhì)的
飽和蒸汽壓,液體氣化,部分轉變成含蒸汽或氣體的氣泡;當介 質(zhì)流過縮流處后,壓力升高,如果超過飽
和蒸汽壓值,汽泡發(fā)生破裂,重新由氣(汽)相變?yōu)橐合?,這個過程稱為汽蝕或空化(Cavitation)(如圖
1)。當汽泡爆裂時,噴射釋放巨大的能量,并產(chǎn)生振動波,實驗證明,150μm 直徑的汽泡破裂,液滴噴射
速度達到 400km/h,產(chǎn)生的瞬間爆破壓力可達 數(shù)千公斤,對閥內(nèi)件表面造成嚴重沖擊和侵蝕磨損(圖 2),
同時還會導致劇烈振動和高噪音、阻塞流的發(fā)生。出現(xiàn)嚴重汽蝕時,在很短的時間內(nèi),閥內(nèi)件將被損壞 或
者閥門的工作特性將發(fā)生改變。閥門學者從微觀學角度通過水做實驗用數(shù)學模型證明了上述汽蝕過程,其中汽泡壓力平衡方程式為:
Pg+Pv=2α/R+P
R 為汽泡的當量半徑,α為轉換常數(shù),2α/R 代表氣泡表面張力分量部分,Pg 為汽泡內(nèi)蒸汽或氣體壓
力,Pv 是介質(zhì)飽和蒸汽壓,P 代表汽泡所處環(huán)境壓力。其 中,Pg 和R是汽泡內(nèi)所含氣體、蒸汽含量以及汽
泡體積大小的變量,這些參數(shù)的引入表明,當介質(zhì)流動狀態(tài)由穩(wěn)定變?yōu)榱鬟^閥門內(nèi)腔縮流處變成湍流不穩(wěn)定
狀態(tài) 時,介質(zhì)分子或液滴表面張力趨勢的變化,通常流體由穩(wěn)態(tài)到不穩(wěn)定湍流流動狀態(tài)變化時,分子表面張力要有一個數(shù)量級的降低。R則代表了汽泡在破裂前體積膨脹 的變化過程。從微觀公式中不難看出:在
一定溫度、壓力條件下,汽泡所處外部壓力和介質(zhì)飽和蒸汽壓是導致汽泡破裂、產(chǎn)生汽蝕的主要參數(shù)指標。
KE 法限制 Trim 出口動能
KE 法可以簡單概括為限制閥門 Trim(通常指閥座、閥心等)出口動能的一種預測方法。早在數(shù)十年以
前,閥門學者指出為了解決汽蝕、噪音及振動損壞閥門 及內(nèi)件的問題,必須著手研究考慮控制閥門的流速,
但當時并沒有明確是控制閥門出口流速還是 Trim 的流速,不過這一理論為此后的研究提供了條件。經(jīng)過一
段 時間的研究發(fā)展,產(chǎn)生了 KE 法則。在 KE 法中,把介質(zhì)的密度和流體 Trim 出口流速結合起來加以考慮,
公式表達式為:公式 1、公式 2 中各參數(shù)定義如下:
A0:閥門縮流處面積,單位 in2 或 m2
KE:流體動能,單位 psi 或 kPa
M1:轉換系數(shù),見表 1
M2:轉換系數(shù),見表 1
V0:閥內(nèi)件縮流處流體的流速,單位 ft/s 或 m/s
w:質(zhì)量流量,單位 lb/h 或 kg/s
ρ0:流體在縮流出口處的密度,單位 lb/ft3 或 kg/m3
公式 1、公式 2 中轉換系數(shù)及單位見表 1:限制閥門 Trim 出口動能的標準見表 2:根據(jù)表 2,KE 法同時作了補充,對于閥門關閉狀態(tài)在 95%以上的場合,如果介質(zhì)不含顆粒,對 Trim 出
口動量的限制可擴大到 1030kPa(150psi);防止汽蝕、閃蒸以及對于介質(zhì)內(nèi)含顆粒雜質(zhì)、出口兩相流的工
況,作為一般原則,Trim 出口動能最大限制在 275kPa(40psi);對于氣體或蒸汽介質(zhì),有低流速或低噪音
嚴格要求場合,動能最大不應超過 75kPa(11psi)。
δ法量化評估
δ法又稱為δ汽蝕指數(shù)法,是 ISA 針對閥門汽蝕各過程,通過量化判斷、分析汽蝕對閥門造成的影響
的一種評估方法,被美國儀表協(xié)會(ISA- RP75.23-1995)所批準,其定義為:δ=(P1-Pv)/(P1-P2)。
式中:δ為汽蝕指數(shù),P1 為閥門入口壓力,P2 為閥門出口壓力,Pv 為介質(zhì)在一定溫度下的飽和蒸汽
壓。隨著δ變大,閥門產(chǎn)生汽蝕的可能性變?。环粗?,汽蝕 幾率增加;如果δ值為零或負值,發(fā)生閃蒸。
詳細定義見圖 3。從圖 3 中可看出,當計算的δ值低于δi 值時,將發(fā)生初始汽蝕;當δ低于δc 值,閥門內(nèi)流體升級為
連續(xù)性汽蝕,這時隨著δ減小,汽蝕繼續(xù)增加,但幅度沒有 從δi 到δc 增加得明顯,不過此時閥門及內(nèi)件
振動加強,噪音升高;當δ值等于δmv 值時,汽蝕、噪音、振動指標均達到最大值。繼續(xù)降低δ,汽蝕率
和閥門振 動程度、噪音將隨著閃蒸現(xiàn)象的出現(xiàn)而有不同程度的降低。其中δmr 是各閥門制造商針對各自所
生產(chǎn)的閥門結構、由實驗室得出的閥門固有δ常數(shù)。對于圖 4 所示多級曲折流道閥內(nèi)件結構的閥門提供的
δmr 值非常小,基本上接近閥門產(chǎn)生阻塞流時的δ值(即δch),δmr 越小,閥門抗汽蝕能力越強;相反,
對于蝶 閥、球閥等高壓力恢復結構的閥門,其δmr 較大,基本接近δi,說明這些結構的閥門抗汽蝕能力
較差。
XFz 法限制出口流速
XFz 法是根據(jù) IEC 標準,在預測分析汽蝕過程時,強調(diào)限制閥門出口流速,同時考慮進、出口壓差對
氣蝕的影響。XFz 法最初起源于德國 VDMA24422-1979 工業(yè)標準,后來被 IEC60534 認可采納。在這個法則中,通過
壓差比來判斷液體產(chǎn)生汽蝕過程,其中 XF 定義為液體壓差比,即:
XF=(P1-P2)/(P1-Pv)
式中:P1 為閥門入口壓力,P2 為閥門出口壓力,Pv 為介質(zhì)在一定溫度下的飽和蒸汽壓。而 XFz=(P1
-P2)/(P1-Pmin)。
式中:Pmin 為流體流經(jīng)閥門縮流處時最小的壓力。XFz 同理于上述的δmr,是控制閥廠家針對不同結
構的閥門進行實驗得到的固有結構參數(shù),XFz 值越 大,閥門抗汽蝕能力越強。
圖 5a 為某閥門制造商通過實驗測得的 XFz。圖 5b 為 XFz(VDMA 也稱 Zy)、壓差比系數(shù) Kc、液體壓力
恢復系數(shù) FL 值隨著閥門差壓、流量分布示意 圖。根據(jù) XFz 法則以及用戶的需求,目前一些控制閥廠家已經(jīng)開發(fā)出高 XFz 抗汽蝕結構閥門,如圖 6 所示。
根據(jù) XFz 法則,在選擇使用閥門時,一般遵循如下規(guī)則,見表 3。XFz 法強調(diào)對閥門出口流速的控制,通過 CFD(如圖 7)模擬分析出口流速對閥門內(nèi)腔、內(nèi)件造成的影
響。選擇閥門時,根據(jù)表 4 及表 5 所述的一般出口流速規(guī) 則,計算出所需要的閥門最小口徑。
同時,XFz 法也對閥門出口流速作了規(guī)定,見表 5。XFz(IEC)法完全建立在數(shù)學模型基礎上,并充分考慮了出口流速、閥門噪音、汽蝕振動、內(nèi)件硬化
處理等綜合指標,能夠為用戶準確、合理選擇閥門,避免 汽蝕發(fā)生從而提高閥門的使用性能提供依據(jù)。在
我國國標 GB/T 17213.16-2005(工業(yè)過程控制閥第 8-4 部分:噪聲的考慮,液動流流經(jīng)控制閥產(chǎn)生的噪聲
預測方法,該標準等同 IEC60534-8-4:1994)中,對汽蝕的分析就采用這個方法。
小結目前各先進控制閥 廠家加大了控制閥可靠性預測的實驗、研發(fā)力度,氣蝕、閃蒸對控制閥的損害是控
制閥可靠性預測分析的主要內(nèi)容。相比于國外而言,國內(nèi)的控制閥制造行業(yè)在這一 領域的工作尚處于起步
階段,在實驗室設置、控制閥計算及診斷軟件方面與歐美閥門廠家還有一定距離。通過以上分析可以看出,
IEC 標準中 的 XFz 法則是分析控制閥汽蝕損害及預防比較完善的一種診斷方法,XFz 法則建立在大量實驗室
數(shù)據(jù)基礎之上,同時數(shù)學模型比較完善,通過實驗分析,對數(shù)學 模型逐步優(yōu)化,使得實驗數(shù)據(jù)與模型計算
數(shù)據(jù)偏差縮小,二者達到統(tǒng)一。此外,XFz 法不僅預測、分析了閥門汽蝕損害,對如何避免、減小這種損害,
如何控制閥 門出口流速也作了充分的闡述。我國控制閥汽蝕診斷標準采用等同的 IEC XFz 法則,建議在控
制閥計算、閥門選型工作中充分掌握這個法則,使控制閥更好地為裝置服務。
閥門流量計算
發(fā) 布時間:2009-7-4 0:00:00 發(fā)布人:administration閥門流量計算
流量計算
Flow Calculations
如 何使用流量系數(shù)
How to use Cv 2. DN350 x DN300 x DN350,壓力等級 Class 900 縮喉管
壓力密封閘閥,其它前提與例 1 相同,求壓降。What is the pressure drop through a 14"x12"x14"
法門流量系數(shù)(Cv)是表示
Class 900 Venturi pressure seal gate valve with
閥門 通過流體能力的數(shù)值。Cv
the same conditions as example 1.
越大,在給定壓降下閥門能夠通
解:采用公式 1
過的流體就越多。Cv 值 1 表示
Solution: Use formula 1.
當通過壓降為 1 PSI 時,閥門每
Cv = 6285 (來自本頁)
本文比較分析了三種控制閥汽蝕損害的診斷方法,建議在閥門選型時,充分利用法則,控制出口流速,
避免或降低閥門的損壞程度。
控制閥在流體工業(yè)中發(fā)揮著重大作用。如今,隨著裝置節(jié)能減排、提高效益、連續(xù)穩(wěn)定運行、減少控
制閥備件、快速的售后服務響應等要求的逐步提高,用戶愈來愈 重視如何優(yōu)化、選擇及使用控制閥這一問
題。這是由于控制閥在裝置中扮演執(zhí)行器的角色,直接決定著裝置的運行狀態(tài)。據(jù)統(tǒng)計,因控制閥自身故障
而導致裝置停車 的比例高達 65%,控制閥選型的好壞也決定了其生產(chǎn)產(chǎn)品的質(zhì)量和產(chǎn)量。
回顧近 5 年來,控制閥技術發(fā)展迅速,一些世界領先級控制閥廠家紛紛推出了在特殊情況下應用的閥
門,例如耐高溫、高壓差、汽蝕、閃蒸、部分顆粒介質(zhì)磨蝕、 高噪音等工況;同時,智能診斷型定位器陸
續(xù)問世,通過定位器可以對閥門進行良好的實時檢測、提供維護報警信息、優(yōu)化閥門使用。毋庸置疑,上述
技術的提高, 大大保證了裝置的穩(wěn)定運行,減少了許多薄弱環(huán)節(jié)。但是我們?nèi)绾尾拍苷_計算選擇并使用
閥門呢?根據(jù)使用經(jīng)驗可知,在苛刻工況中,汽蝕經(jīng)常造成閥門內(nèi)件損壞,并伴有高噪音、內(nèi)件振動、阻塞流
等情況發(fā)生,在閥門計算選型時,如何減小、避免汽蝕的發(fā)生至 關重要。目前,閥門制造商對汽蝕的評估
方法不盡相同,本文圍繞 KE 法、δ法和 XFz 法,主要針對如何減少、避免汽蝕和閥門的正確選型應用進行
了分析。
控制閥汽蝕控制閥汽蝕現(xiàn)象是指介質(zhì)流經(jīng)閥內(nèi)腔縮流處時,流速最大,壓強能最低,如果這時的壓力低于介質(zhì)的
飽和蒸汽壓,液體氣化,部分轉變成含蒸汽或氣體的氣泡;當介 質(zhì)流過縮流處后,壓力升高,如果超過飽
和蒸汽壓值,汽泡發(fā)生破裂,重新由氣(汽)相變?yōu)橐合?,這個過程稱為汽蝕或空化(Cavitation)(如圖
1)。當汽泡爆裂時,噴射釋放巨大的能量,并產(chǎn)生振動波,實驗證明,150μm 直徑的汽泡破裂,液滴噴射
速度達到 400km/h,產(chǎn)生的瞬間爆破壓力可達 數(shù)千公斤,對閥內(nèi)件表面造成嚴重沖擊和侵蝕磨損(圖 2),
同時還會導致劇烈振動和高噪音、阻塞流的發(fā)生。出現(xiàn)嚴重汽蝕時,在很短的時間內(nèi),閥內(nèi)件將被損壞 或
者閥門的工作特性將發(fā)生改變。閥門學者從微觀學角度通過水做實驗用數(shù)學模型證明了上述汽蝕過程,其中汽泡壓力平衡方程式為:
Pg+Pv=2α/R+P
R 為汽泡的當量半徑,α為轉換常數(shù),2α/R 代表氣泡表面張力分量部分,Pg 為汽泡內(nèi)蒸汽或氣體壓
力,Pv 是介質(zhì)飽和蒸汽壓,P 代表汽泡所處環(huán)境壓力。其 中,Pg 和R是汽泡內(nèi)所含氣體、蒸汽含量以及汽
泡體積大小的變量,這些參數(shù)的引入表明,當介質(zhì)流動狀態(tài)由穩(wěn)定變?yōu)榱鬟^閥門內(nèi)腔縮流處變成湍流不穩(wěn)定
狀態(tài) 時,介質(zhì)分子或液滴表面張力趨勢的變化,通常流體由穩(wěn)態(tài)到不穩(wěn)定湍流流動狀態(tài)變化時,分子表面張力要有一個數(shù)量級的降低。R則代表了汽泡在破裂前體積膨脹 的變化過程。從微觀公式中不難看出:在
一定溫度、壓力條件下,汽泡所處外部壓力和介質(zhì)飽和蒸汽壓是導致汽泡破裂、產(chǎn)生汽蝕的主要參數(shù)指標。
KE 法限制 Trim 出口動能
KE 法可以簡單概括為限制閥門 Trim(通常指閥座、閥心等)出口動能的一種預測方法。早在數(shù)十年以
前,閥門學者指出為了解決汽蝕、噪音及振動損壞閥門 及內(nèi)件的問題,必須著手研究考慮控制閥門的流速,
但當時并沒有明確是控制閥門出口流速還是 Trim 的流速,不過這一理論為此后的研究提供了條件。經(jīng)過一
段 時間的研究發(fā)展,產(chǎn)生了 KE 法則。在 KE 法中,把介質(zhì)的密度和流體 Trim 出口流速結合起來加以考慮,
公式表達式為:公式 1、公式 2 中各參數(shù)定義如下:
A0:閥門縮流處面積,單位 in2 或 m2
KE:流體動能,單位 psi 或 kPa
M1:轉換系數(shù),見表 1
M2:轉換系數(shù),見表 1
V0:閥內(nèi)件縮流處流體的流速,單位 ft/s 或 m/s
w:質(zhì)量流量,單位 lb/h 或 kg/s
ρ0:流體在縮流出口處的密度,單位 lb/ft3 或 kg/m3
公式 1、公式 2 中轉換系數(shù)及單位見表 1:限制閥門 Trim 出口動能的標準見表 2:根據(jù)表 2,KE 法同時作了補充,對于閥門關閉狀態(tài)在 95%以上的場合,如果介質(zhì)不含顆粒,對 Trim 出
口動量的限制可擴大到 1030kPa(150psi);防止汽蝕、閃蒸以及對于介質(zhì)內(nèi)含顆粒雜質(zhì)、出口兩相流的工
況,作為一般原則,Trim 出口動能最大限制在 275kPa(40psi);對于氣體或蒸汽介質(zhì),有低流速或低噪音
嚴格要求場合,動能最大不應超過 75kPa(11psi)。
δ法量化評估
δ法又稱為δ汽蝕指數(shù)法,是 ISA 針對閥門汽蝕各過程,通過量化判斷、分析汽蝕對閥門造成的影響
的一種評估方法,被美國儀表協(xié)會(ISA- RP75.23-1995)所批準,其定義為:δ=(P1-Pv)/(P1-P2)。
式中:δ為汽蝕指數(shù),P1 為閥門入口壓力,P2 為閥門出口壓力,Pv 為介質(zhì)在一定溫度下的飽和蒸汽
壓。隨著δ變大,閥門產(chǎn)生汽蝕的可能性變?。环粗?,汽蝕 幾率增加;如果δ值為零或負值,發(fā)生閃蒸。
詳細定義見圖 3。從圖 3 中可看出,當計算的δ值低于δi 值時,將發(fā)生初始汽蝕;當δ低于δc 值,閥門內(nèi)流體升級為
連續(xù)性汽蝕,這時隨著δ減小,汽蝕繼續(xù)增加,但幅度沒有 從δi 到δc 增加得明顯,不過此時閥門及內(nèi)件
振動加強,噪音升高;當δ值等于δmv 值時,汽蝕、噪音、振動指標均達到最大值。繼續(xù)降低δ,汽蝕率
和閥門振 動程度、噪音將隨著閃蒸現(xiàn)象的出現(xiàn)而有不同程度的降低。其中δmr 是各閥門制造商針對各自所
生產(chǎn)的閥門結構、由實驗室得出的閥門固有δ常數(shù)。對于圖 4 所示多級曲折流道閥內(nèi)件結構的閥門提供的
δmr 值非常小,基本上接近閥門產(chǎn)生阻塞流時的δ值(即δch),δmr 越小,閥門抗汽蝕能力越強;相反,
對于蝶 閥、球閥等高壓力恢復結構的閥門,其δmr 較大,基本接近δi,說明這些結構的閥門抗汽蝕能力
較差。
XFz 法限制出口流速
XFz 法是根據(jù) IEC 標準,在預測分析汽蝕過程時,強調(diào)限制閥門出口流速,同時考慮進、出口壓差對
氣蝕的影響。XFz 法最初起源于德國 VDMA24422-1979 工業(yè)標準,后來被 IEC60534 認可采納。在這個法則中,通過
壓差比來判斷液體產(chǎn)生汽蝕過程,其中 XF 定義為液體壓差比,即:
XF=(P1-P2)/(P1-Pv)
式中:P1 為閥門入口壓力,P2 為閥門出口壓力,Pv 為介質(zhì)在一定溫度下的飽和蒸汽壓。而 XFz=(P1
-P2)/(P1-Pmin)。
式中:Pmin 為流體流經(jīng)閥門縮流處時最小的壓力。XFz 同理于上述的δmr,是控制閥廠家針對不同結
構的閥門進行實驗得到的固有結構參數(shù),XFz 值越 大,閥門抗汽蝕能力越強。
圖 5a 為某閥門制造商通過實驗測得的 XFz。圖 5b 為 XFz(VDMA 也稱 Zy)、壓差比系數(shù) Kc、液體壓力
恢復系數(shù) FL 值隨著閥門差壓、流量分布示意 圖。根據(jù) XFz 法則以及用戶的需求,目前一些控制閥廠家已經(jīng)開發(fā)出高 XFz 抗汽蝕結構閥門,如圖 6 所示。
根據(jù) XFz 法則,在選擇使用閥門時,一般遵循如下規(guī)則,見表 3。XFz 法強調(diào)對閥門出口流速的控制,通過 CFD(如圖 7)模擬分析出口流速對閥門內(nèi)腔、內(nèi)件造成的影
響。選擇閥門時,根據(jù)表 4 及表 5 所述的一般出口流速規(guī) 則,計算出所需要的閥門最小口徑。
同時,XFz 法也對閥門出口流速作了規(guī)定,見表 5。XFz(IEC)法完全建立在數(shù)學模型基礎上,并充分考慮了出口流速、閥門噪音、汽蝕振動、內(nèi)件硬化
處理等綜合指標,能夠為用戶準確、合理選擇閥門,避免 汽蝕發(fā)生從而提高閥門的使用性能提供依據(jù)。在
我國國標 GB/T 17213.16-2005(工業(yè)過程控制閥第 8-4 部分:噪聲的考慮,液動流流經(jīng)控制閥產(chǎn)生的噪聲
預測方法,該標準等同 IEC60534-8-4:1994)中,對汽蝕的分析就采用這個方法。
小結目前各先進控制閥 廠家加大了控制閥可靠性預測的實驗、研發(fā)力度,氣蝕、閃蒸對控制閥的損害是控
制閥可靠性預測分析的主要內(nèi)容。相比于國外而言,國內(nèi)的控制閥制造行業(yè)在這一 領域的工作尚處于起步
階段,在實驗室設置、控制閥計算及診斷軟件方面與歐美閥門廠家還有一定距離。通過以上分析可以看出,
IEC 標準中 的 XFz 法則是分析控制閥汽蝕損害及預防比較完善的一種診斷方法,XFz 法則建立在大量實驗室
數(shù)據(jù)基礎之上,同時數(shù)學模型比較完善,通過實驗分析,對數(shù)學 模型逐步優(yōu)化,使得實驗數(shù)據(jù)與模型計算
數(shù)據(jù)偏差縮小,二者達到統(tǒng)一。此外,XFz 法不僅預測、分析了閥門汽蝕損害,對如何避免、減小這種損害,
如何控制閥 門出口流速也作了充分的闡述。我國控制閥汽蝕診斷標準采用等同的 IEC XFz 法則,建議在控
制閥計算、閥門選型工作中充分掌握這個法則,使控制閥更好地為裝置服務。
閥門流量計算
發(fā) 布時間:2009-7-4 0:00:00 發(fā)布人:administration閥門流量計算
流量計算
Flow Calculations
如 何使用流量系數(shù)
How to use Cv 2. DN350 x DN300 x DN350,壓力等級 Class 900 縮喉管
壓力密封閘閥,其它前提與例 1 相同,求壓降。What is the pressure drop through a 14"x12"x14"
法門流量系數(shù)(Cv)是表示
Class 900 Venturi pressure seal gate valve with
閥門 通過流體能力的數(shù)值。Cv
the same conditions as example 1.
越大,在給定壓降下閥門能夠通
解:采用公式 1
過的流體就越多。Cv 值 1 表示
Solution: Use formula 1.
當通過壓降為 1 PSI 時,閥門每
Cv = 6285 (來自本頁)
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